火焰光譜法的干擾

  火焰發(fā)射光譜法所遇到的干擾與原子吸收法干擾的來源相同，但某給定干擾嚴重程度則往往不同。

（1）光譜線的干擾

    當欲分析的元素以外的物質(zhì)所發(fā)出的譜線波長與被分析的元素譜線波長相接近時，會發(fā)生光譜線的干擾。原子發(fā)射光譜法的選擇性取決于單色儀，因此由于譜線重疊所引起的光譜干擾的幾率較大。

    帶干擾；背景校正。發(fā)射線往往疊加在由樣品、燃料或氧化劑帶來的氧化物和其他分子組分所發(fā)射的帶狀光譜上，因此必須進行背景校正。

（2）化學干擾

火焰發(fā)射光譜法化學干擾來自原子化期間各種可改變待測物吸收特性的化學過程。

（3）自吸收

由于火焰中心要比其外圍熱，因此火焰中心發(fā)射輻射的原子被含有較高濃度未激發(fā)原子的較冷區(qū)域所包圍，從而將發(fā)生共振波長被較冷層中原子自吸收的現(xiàn)象。

（4）陰離子的影響所產(chǎn)生的干擾

   當相當大量的酸與它的鹽類被引入火焰時，元素的發(fā)光強度將會減少。一般干擾物質(zhì)的濃度不超過0.1mol/L時不會有干擾產(chǎn)生，但當濃度高于0.1mol/L的硫酸、硝酸及磷酸存在時，會降低金屬原子發(fā)光強度。二階微分火焰光譜法對疊加譜線進行二階微分，消除了譜線周圍的背景干擾，因此使檢測靈敏度成倍增高。